11月7日，国际测量与计量组织调研活动在上海理工大学勤业楼举行。本次活动聚焦“建立国际平面平晶计量实物标准”议题，通过专题报告与学术研讨，深入探讨了该领域的关键技术与国际协作路径。国际计量委员会（CIPM）主席Dr. Wynand Louw、非洲计量合作组织（AFRIMETS）主席Dr. Henry Rotich、德国斯图加特大学应用光学研究所所长Prof. Dr. Stephan Reichelt、南非开普敦大学计量与应用科学大学研究中心主任Prof. Dr. Andrew Buffler、摩洛哥国家计量院院长Eng. Abdellah ZITI、中关村检验检测认证产业技术联盟国际合作专委会秘书长彭京跃等代表团成员应邀参加。上海理工大学校长朱新远教授、光电学院荣誉院长庄松林院士、光电学院院长张大伟教授等出席。活动由光电学院韩森教授主持。
朱新远校长代表学校致欢迎辞，对国际计量专家的到访表示热烈欢迎和诚挚感谢，并期待通过此次交流深化与国际计量组织的合作。庄松林院士在总结致辞中，对平面平晶计量领域的未来合作提出展望，鼓励各方凝聚共识、推进务实合作。张大伟院长介绍了光电学院的基本情况与发展规划。
会上，Dr. Wynand Louw介绍了国际计量委员会（CIPM）的全球使命与发展方向，Dr. Henry Rotich分享了非洲计量合作组织（AFRIMETS）的建设与愿景，Prof. Dr. Stephan Reichelt分享了斯图加特大学应用光学研究所的研究特色，Prof. Dr. Andy Buffler介绍了开普敦大学在计量科学与工程应用方面的成果，Eng. Abdellah ZITI介绍了摩洛哥国家计量院（SNM）的职能与发展，彭京跃秘书长则阐述了中关村检验检测认证产业技术联盟在推动国际技术合作方面的作用。
韩森教授围绕“平面平晶计量在上海理工大学的产学研进展”作主题报告。在专题学术研讨环节，与会专家围绕“建立国际平面平晶计量实物标准”展开深入讨论，就技术难点、标准化路径与国际协作模式交换意见。
国际代表团还参观了光学仪器和精密测量实验室，实地考察了学校在平面平晶计量领域的研究平台与实验设施，并在会议结束后参观了上海理工大学校史馆，深入了解学校的办学历史与工程教育传统。
会议现场
朱新远致辞
庄松林院士致辞
Dr. Wynand Louw介绍国际计量委员会
国际代表团参观实验室
国际代表团参观校史馆
